Los microscopios electrónicos son excelentes para producir imágenes de alta resolución de la estructura atómica de un material, si el material es duro, claro.
Desafortunadamente, los haces de electrones de los dispositivos pueden destruir materiales más blandos, por lo que los científicos generalmente confían en los rayos X, que no pueden alcanzar una resolución atómica, para obtener imágenes.
Pero los científicos del Laboratorio Nacional Lawrence Berkeley del Departamento de Energía han publicado un par de estudios en las revistas. Comunicaciones de la naturaleza y Materiales naturales mostrando cómo una técnica llamada 4D-STEM les permitió usar microscopía electrónica para obtener imágenes de materiales blandos sin destruirlos.
Y las imágenes resultantes de su investigación son francamente hermosas.
(Colin Ophus / Berkeley Lab)
Doble tiempo
De acuerdo a un comunicado de prensa recientemente publicado, el Comunicaciones de la naturaleza El estudio se centró en el uso de 4D-STEM para obtener imágenes de vidrio metálico a granel, que tiene una estructura molecular impredecible.
Esto permitió a los investigadores identificar puntos débiles a escala atómica en el material que en última instancia podrían causar su fractura bajo estrés.
Para el Materiales naturales Mientras tanto, los investigadores utilizaron la técnica 4D-STEM para obtener imágenes del orden molecular en un semiconductor antes y después de la introducción de un aditivo de procesamiento, investigación que, según el comunicado de prensa, podría afectar el campo de la energía solar.
"(I) en estos estudios, hemos demostrado que cuando 4D-STEM se implementa con nuestros detectores de alta velocidad, algoritmos personalizables y potentes microscopios electrónicos, la técnica puede ayudar a los científicos a mapear regiones atómicas o moleculares en cualquier material, incluso materiales blandos sensibles al haz, que no se podían ver con técnicas anteriores ", dijo el investigador principal Andrew Minor en el comunicado de prensa.
Este artículo fue publicado originalmente por Futurismo. Leer el artículo original.